英文缩略词“BIAMS”经常作为“Beam Injection Assessment of Microstructures in Semiconductors”的英文缩写来使用，中文表示：“半导体微结构的束注入评估”。本文将详细介绍英文缩写词BIAMS所代表英文单词，其对应的中文拼音、详细解释以及在英语中的流行度。此外，还有关于缩略词BIAMS的分类、应用领域及相关应用示例等。
“BIAMS”（“半导体微结构的束注入评估“）释义
- 英文缩写词：BIAMS
- 英文单词：Beam Injection Assessment of Microstructures in Semiconductors
- 缩写词中文简要解释：半导体微结构的束注入评估
- 中文拼音：bàn dǎo tǐ wēi jié gòu dí shù zhù rù píng gū
- 缩写词流行度：134
- 缩写词分类：Hardware (硬件)
- 缩写词领域：Computing (计算机)
以上为Beam Injection Assessment of Microstructures in Semiconductors英文缩略词BIAMS的中文解释，以及该英文缩写在英语的流行度、分类和应用领域方面的信息。
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"BIAMS - 半导体微结构的束注入评估 ." [引用日期]. <https://www.suoxie123.com/a/BB987.html>.
